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- 200 1_ |a 半导体的检测与分析 |f 许振嘉主编
- 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2007
- 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版
- 330 __ |a 本书共分7章。内容包括:引论,半导体的高分辨X射线衍射,光学监测与分析,表面、薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征等。
- 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书
- 606 0_ |a 半导体材料 |x 检测 |x 分析
- 701 _0 |a 许振嘉 |f (1929~) |4 主编
- 801 _0 |a CN |b PUB |c 20071119
- 801 _2 |a CN |b YNNI |c 20080107
- 905 __ |a YNNI |d TN304.07/3854