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- 000 01514oam2 2200313 450
- 010 __ |a 978-7-111-58286-1 |d CNY79.00
- 100 __ |a 20180123d2018 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 嵌入式系统中的辐射效应 |b 专著 |d Radiation effects on embedded systems |f (法)拉乌尔·委拉兹克(Raoul Velazco),(法)帕斯卡·弗埃雷特(Pascal Fouillat),(巴西)里卡多·赖斯(Ricardo Reis)等著 |g 黄云[等]译 |z eng |9 qian ru shi xi tong zhong de fu she xiao ying
- 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2018
- 215 __ |a 11,234页 |c 图 |d 24cm
- 225 2_ |a 国际电气工程先进技术译丛 |9 guo ji dian qi gong cheng xian jin ji shu yi cong
- 330 __ |a 本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应,主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。
- 510 1_ |a Radiation effects on embedded systems |z eng
- 606 0_ |a 微型计算机 |x 系统设计 |x 辐射效应
- 701 _0 |c (法) |a 委拉兹克 |c (Velazco, Raoul) |4 著 |9 wei la zi ke
- 701 _0 |c (法) |a 弗埃雷特 |c (Fouillat, Pascal) |4 著 |9 fu ai lei te
- 701 _0 |c (巴西) |a 赖斯 |4 著 |9 lai si
- 702 _0 |a 黄云 |c (电子学) |4 译 |9 huang yun
- 801 _0 |a CN |b YNNI |c 20180608
- 905 __ |a YNNI |d TP360.21/2584