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题名/责任者:

现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应/(日)Eishi H. Ibe著 毕津顺，马瑶，王天琦译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-121-35115-0/CNY79.00

载体形态项:

14,210页:图;26cm

并列正题名:

Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems

丛编项:

国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术

个人责任者:

(日) 伊部英士 著

个人次要责任者:

毕津顺 译

个人次要责任者:

马瑶 (电子学) 译

个人次要责任者:

王天琦 (电子学) 译

学科主题:

集成电路-全球环境-辐射效应

学科主题:

电子系统-全球环境-辐射效应

中图法分类号:

TN4

中图法分类号:

TN103

版本附注:

由John Wiley & Sons, Ltd.授权出版

提要文摘附注:

本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。

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