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- 题名/责任者:
- 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著
- 出版发行项:
- 西安:西安交通大学出版社,2017.07
- ISBN及定价:
- 978-7-5605-9902-1/CNY42.00
- 载体形态项:
- 123页:图;24cm
- 丛编项:
- “十三五”学术文库系列
- 个人责任者:
- 谢小军 著
- 学科主题:
- 绝缘材料-介电性质-研究
- 中图法分类号:
- TM21
- 提要文摘附注:
- 本文针对这两种不同的电介质材料，研究如何准确建立微观结构模型，并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性，分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性，分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性，进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性，指导材料的应用具有重要意义。
- 使用对象附注:
- 介电性质相关研究人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TM21/3493 | 06001038308 |  雨花密集存本库
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阅览 | 雨花密集存本库 | |
| TM21/3493 | 06001038309 | 雨花理科图书室
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可借 | 雨花理科图书室 | |
| TM21/3493 | 06001038310 | 雨花理科图书室
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可借 | 雨花理科图书室 |
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