| 暂存书架(0) | 登录



MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:26

题名/责任者:
公差配合与技术测量/封金祥,胡建国主编
出版发行项:
北京:北京理工大学出版社有限责任公司,2016
ISBN及定价:
978-7-5682-1641-8/CNY49.00
载体形态项:
238页:图;26cm
个人责任者:
封金祥 主编
个人责任者:
胡建国 主编
学科主题:
公差-配合
学科主题:
技术测量
中图法分类号:
TG801
提要文摘附注:
本书共10章,分别是绪论、极限与配合基础、技术测量基础、几何公差与检测、表面粗糙度及测量、滚动轴承的公差与配合、圆锥的公差与配合、键和花键的公差与检测、螺纹的公差与检测、圆柱齿轮的公差与检测。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TG801/4483 06001151033   雨花密集存本库     阅览 雨花密集存本库
TG801/4483 06001151034   雨花理科图书室     可借 雨花理科图书室
TG801/4483 06001151035   雨花理科图书室     可借 雨花理科图书室
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架