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题名/责任者:

材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉，武高辉编著

版本说明:

2版

出版发行项:

哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2007

ISBN及定价:

978-7-5603-1338-2/CNY26.80

载体形态项:

311页:图;26cm

并列正题名:

Analysis methods in materials science:X-ray diffraction and electron microscopy in materials science

其它题名:

材料X射线衍射与电子显微分析

个人责任者:

周玉 (1955~) 编著

个人责任者:

武高辉 (1955~) 编著

学科主题:

金属材料-X射线衍射分析-高等学校-教材

学科主题:

金属材料-电子显微镜分析-高等学校-教材

中图法分类号:

TG115.23

中图法分类号:

TG115.21

一般附注:

高等学校经典畅销教材

相关题名附注:

封面英文题名：Analysis methods in materials science: X-ray diffraction and electron microscopy in materials science

提要文摘附注:

本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。具体内容包括：X射线的性质、衍射方向、衍射强度、X射线物相分析、多晶体结构、复型技术等。

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