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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:21

题名/责任者:
散斑计量学/(美)厄 夫(Erf,R.K.)主编 余官正等译
出版发行项:
北京:中国计量出版社,1990.5
ISBN及定价:
7-5026-0321-2/7.50元
载体形态项:
357页;19厘米
其它题名:
Speckle metrology
编目员补充题名:
散斑 计量学
个人责任者:
厄夫(Erf) R.K. R.K. 主编
个人责任者:
余官正
学科主题:
散斑法
中图法分类号:
TB96
科图法分类号:
71.48
一般附注:
书名原文:Speckle Metrology
提要文摘附注:
本书介绍了散斑照相术、散斑干涉术和散斑剪切干涉术的原理和方法等知识。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O435/7150 06000003039   雨花剔旧2室     可借 雨花剔旧2室
O435/7150 06000218218   雨花剔旧2室     可借 雨花剔旧2室
O435/7150 06000003066   莲华自科书库(O类)     可借
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