| 暂存书架(0) | 登录



MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:25

题名/责任者:
电子元器件的可靠性/李能贵著
出版发行项:
西安:西安交通大学出版社,1990.6
ISBN及定价:
7-5605-0296-2/2.45元
载体形态项:
173页;26厘米
编目员补充题名:
电子 元器件 可靠性
个人责任者:
李能贵
学科主题:
电子产品-可靠性-高等学校-教材
中图法分类号:
TN606
科图法分类号:
73.7611
一般附注:
高等学校教材
提要文摘附注:
本书介绍了电子元器件的可靠性基本理论、试验方法及数据处理方法。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN606/4025 06000013271   雨花理科图书室     可借
TN606/4025 06000013284   雨花理科图书室     可借
TN606/4025 06000013311   雨花理科图书室     可借
TN606/4025 06000013298   莲华自科书库(T类)     可借
TN606/4025 06000013325   莲华自科书库(T类)     可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架