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题名/责任者:

电子声子计量谱学/孙长庆，杨学弦，黄勇力著

出版发行项:

北京:科学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-03-067387-9 精装/CNY199.00

载体形态项:

17,425页:图，照片;24cm

并列正题名:

Electron and phonon spectrometrics

个人责任者:

孙长庆 (1956.11~) 著

个人责任者:

杨学弦 著

个人责任者:

黄勇力 (1981~) 著

学科主题:

电子声子相互作用-计量-研究

中图法分类号:

O481.3

提要文摘附注:

本书旨在倡导计量谱学工程以获取前所未及的有关化学键-电子-声子-物性受激关联弛豫的定量和动态信息。主要涉及电子发射和衍射以及多场声子谱学分析原理、积分差谱专利技术、局域键平均近似、化学键受激弛豫、氢键非对称耦合振子对、非键电子极化等理论方法。通过改变原子配位、受力、冲击、受热、掺杂、水合、电磁辐射等对哈密顿量中的晶体势进行微扰以实现振动声子频率和电子能级的偏移。解析这些偏移并获得诸如键长、键能、孤立原子轨道能级、成键电子局域钉扎、非键电子极化、原子结合能、结合能密度、德拜温度、弹性模量以及配位键振动特征转变等基本因变信息以确定相应的物理参量，并揭示物质行为规律以实现有效控制。

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