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题名/责任者:

半导体中的氢/崔树范著

出版发行项:

北京:科学出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-03-056492-4/CNY68.00

载体形态项:

10,132页:图;24cm

个人责任者:

崔树范 (物理学) 著

学科主题:

半导体-氢-研究

中图法分类号:

O613.2

中图法分类号:

O472

提要文摘附注:

本书内容涵盖从半导体中氢原子与氢分子的红外或拉曼光谱测定和氢致缺陷形成机理研究，到半导体中氢的基本性质和重要效应。后者包括含氢复合物，杂质与缺陷的钝化，氢引起半导体的表面金属化或磁性以及导电性的改变；特别是关于半导体中氢能级排队和化学键重要概念，以及氢在半导体表面重构中的作用等近年来新的研究进展，能使读者从电子层面深入地理解氢对材料的电子和结构性质具有强烈的和重要的影响。

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