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题名/责任者:

嵌入式系统中的辐射效应/(法)拉乌尔·委拉兹克(Raoul Velazco)，(法)帕斯卡·弗埃雷特(Pascal Fouillat)，(巴西)里卡多·赖斯(Ricardo Reis)等著 黄云[等]译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-111-58286-1/CNY79.00

载体形态项:

11,234页:图;24cm

并列正题名:

Radiation effects on embedded systems

丛编项:

国际电气工程先进技术译丛

个人责任者:

(法) 委拉兹克 (Velazco, Raoul) 著

个人责任者:

(法) 弗埃雷特 (Fouillat, Pascal) 著

个人责任者:

(巴西) 赖斯 著

个人次要责任者:

黄云 (电子学) 译

学科主题:

微型计算机-系统设计-辐射效应

中图法分类号:

TP360.21

版本附注:

由Springer授权出版

提要文摘附注:

本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。

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