MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：20
- 题名/责任者:
- 半导体材料测试与分析/杨德仁等著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-027036-8 精装/CNY78.00
- 载体形态项:
- 11,381页:图;24cm
- 丛编项:
- 半导体科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 杨德仁 (1964~) 著
- 学科主题:
- 半导体材料-测试
- 学科主题:
- 半导体材料-分析
- 学科主题:
- 半导体材料
- 中图法分类号:
- TN304.07
- 一般附注:
- 中国科学院科学出版基金资助出版
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱等测试分析技术。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN304.07/4722 | 06000848276 | - |  雨花密集存本库
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阅览 |
| TN304.07/4722 | 06000848275 | - | 雨花理科图书室
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可借 |
| TN304.07/4722 | 06000848274 | - | 莲华自科书库（Ｔ类）
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可借 |
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